天瑞镀层厚度检测仪Thick800A,天瑞仪器

  天瑞镀层厚度检测仪Thick800A,天瑞仪器 

采用了天瑞仪器新技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度。
Thick800A产品指标：
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.003um
测量上限：30-50um（以材料元素判定）
测量层数：10层
测量用时：30-120秒
探测器类型：Si-PIN电制冷   
探测器分辨率：149eV
高压范围：5-50Kv，50W
X光管参数：5-50Kv，50W，侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：镀层滤光片
CCD观察：260万像素
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
测试环境：非真空条件
数据通讯：USB2.0模式
准直器：?0.5mm
软件方法：FlexFP-Mult
工作区：开放工作区 自定义
样品腔：70*20mm
整机重量：38kg

  天瑞镀层厚度检测仪Thick800A,天瑞仪器 镀层测厚方法：
1.磁性涂层测厚法
使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度，如铁上镀铜、锌、铬、金、银等，涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。
2.涡流层层测厚法
可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度，如不锈钢、铜、铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等图层的厚度
3.X射线荧光法
所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试，同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。
常用单位：
微米（um），微英寸（u‘’）俗语“迈”，密耳（mil）
1um=39.4迈，  1um=0.04mil