X射线荧光镀层测厚仪_天瑞仪器

 X射线荧光镀层测厚仪_天瑞仪器 

 技术参数
小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
一次可同时分析多达五层镀层
度适应范围为15℃30℃
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
分析含量一般为2ppm到99.9%
仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg
x射线荧光镀层测厚仪性能优势
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

 X射线荧光镀层测厚仪_天瑞仪器 产品配置
一、硬件：主机壹台，含下列主要部件：  
(1)   X光管                  (2) si-pin探测器
(3) 信号检测电子电路        (4) 高精度二维移动平台 
(5) 高清晰摄像头            (6)高低压电源
(7)  开放式样品腔            (8） 双激光定位装置
(9)  铅玻璃屏蔽罩
二、软件及其他：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0

x射线荧光镀层测厚仪售后服务理念
“快速、准确、到位”的服务
短交货时间
快安装
短维修周期
长保修期
个性化服务
维护费用
技术服务的响应期限：提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。