无卤检测仪

 无卤检测仪目前XRF在氯的测试结果判定方面没有一个专门的标准来执行，而卤素标准与rohs标准之间有很大的关联，执行rohs标准的时候对结果的判定是参考IEC62321文件来执行的，所以目前大部分XRF厂商对于Cl的结果的判定也是参考IEC62321文件执行，以下节选自IEC62321文件里面各元素的检测结果的判断方法。

  无卤检测仪各种类型的XRF光谱仪单独使用，分析方法允许使用者把样品归纳为以下三类的其中一类：
a)       “合格”－ 如果对所有的元素定量分析的结果全部小于表2所列的低限值，样品经过测试为合格。
b)      “不合格”－ 如全部高于表2所列的高限值，样品经过测试为不合格。
c)       “未决定”－ 如果对Hg、Pb或者Cd其中任何一种的元素定量分析的结果处于中间区域或者元素Br和Cr的结果高于表2所列的高限值，分析结果为未做决定。还必须要进行进一步的研究。这个检测是“未决定”。
表2：各种基材中受限元素的筛选限值，单位（mg/kg）
元素 聚合物材料 金属材料 电子元件 
Cd P≤（70－3σ）<X <（130＋3σ）≤F P≤（70－3σ）<X <（130＋3σ）≤F LOD≤X <（250＋3σ）≤F 
Pb P≤（700－3σ）<X <（1300＋3σ）≤F P≤（700－3σ）<X <（1300＋3σ）≤F P≤（500－3σ）<X <（1500＋3σ）≤F 
Hg P≤（700－3σ）<X <（1300＋3σ）≤F P≤（700－3σ）<X <（1300＋3σ）≤F P≤（500－3σ）<X <（500＋3σ）≤F 
Br P≤（300－3σ）<X 
 P≤（250－3σ）<X 
Cr P≤（700－3σ）<X P≤（700－3σ）<X P≤（500－3σ）<X 
     筛选限值已列于表2中。普通法定的对受关注物质的限值已经受到了相关的评估，但对此方法“执行的水平”已经为筛选过程定了容许30％（50％对于电子元件）安全极限值的偏差，这样合格（P）或者不合格（F）的决定将会分别设定为少于和多于30％（50对于电子元件）的法定限值。极限值得到了很多做实验的专家和工厂的实践人员的赞同。“X”符号表示这样一个区域，在这个区域中的数值还需要进一步的研究。
     因此天瑞公司对于Cl元素的结果的判断也是参考此文件得出如下的判断方法。

元素 聚合物材料 金属材料 电子元件 
Cl P≤（70－3σ）<X <（130＋3σ）≤F