X射线荧光光谱仪 EDX1800B

  X射线荧光光谱仪 EDX1800B包括:EDX1800B用于ROHS六大有害物质含量检测，Thick800A用于金属电镀层厚度测试仪，Explorer5000用于金属成分分析仪，explorer9000用于土壤重金属含量检测，EDX4500用于全元素含量分析。

可在两分钟的时间内对电子电器及塑胶等产品的铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）以及溴（Br）五种元素含量。天瑞仪器秉承“无微不”的精神,采用新技术，特别设计EDX1800B型号的X射线荧光光谱仪。该系列产品在单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低采用行业的数字多道技术。优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率可达1000Wcps，采用大功率X光管及的准直滤光系统，优势：激发效率更高，样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度，精密的定位系统 ，超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点，2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试，超小样品检测——小可测到0.2毫米。作为一种快捷方便的光谱分析方法，EDX1800B被于重金属四项和卤素含量的扫描测试。仪器配有相应标准样品。
 

X射线荧光光谱仪 EDX1800B可以满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求， ，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业。
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自动定位测试高度；定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐，鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加精准，良好的射线屏蔽作用。测试口高度敏感性传感器保护。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）。开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。

Explorer5000手持式XRF仪器是天瑞仪器结合10年手持便携式研发经验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，研制出具有自主知识产权的，全新一代手持XRF产品。EXPLORER 5000便携式XRF合金分析仪是先使用全新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的便携式手持合金分析仪。超低的检出限使手持式分析仪的性能媲美台式机；仪器体积小，重量轻，可随身携带进行测量，适用于各类型合金样品的分析。
合金行业应用
贵金属合金
钢铁冶炼
废旧金属回收
机械制造与加工
锅炉压力容器
航天工业
船舶制造
EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。