磁性材料重金属元素分析仪

   磁性材料重金属元素分析仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。

   磁性材料重金属元素分析仪 性能特点
高效超薄窗X光管，指标达到水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的*性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
技术参数
产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
标准配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
X荧光光谱仪
型号：3600B
仪器介绍

EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司、粉末冶金企业等对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的*性；利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料、粉末冶金、磁性材料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。

智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99% 
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05% 
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量时间：60s—200s  
能量分辨率为：（150±5）eV  
管压：5KV—50KV 

元素含量分析范围：1ppm—99.99% 
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05% 
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量时间：60s—200s  
能量分辨率为：（150±5）eV  
管压：5KV—50KV 

管流：50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器 
光路增强系统 
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片 
精准的升降平台 

信噪比增强器 
光路增强系统 
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片 
精准的升降平台 

加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测 
水泥检测 
矿料分析
粉末冶金成分分析
磁性材料半成品、成品在线控制
水泥检测 
矿料分析
粉末冶金成分分析

磁性材料半成品、成品在线控制