邻苯二甲酸酯检测仪

 邻苯二甲酸酯检测仪1是电工委员会(IEC)制定的关于电子电气产品中限用有害物质的测试方法。IEC 62321: 2008是一个‘独立’的标准，其中包括介绍，测试方法，机械制样的概述，以及各种测试方法的条款。2013年5月17日开始将IEC 62321: 2008拆分为一系列标准，同时导入新的测试方法或仪器。

 邻苯二甲酸酯检测仪1新更新系列标准

2017年

●  IEC 62321-7-2

   通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬

   主要变化：采用有机溶剂从样品中提取六价铬

● IEC 62321-8

   通过GC-MS或Py/TD-GC–MS测定聚合物中的邻苯二甲酸酯

   主要变化：新增章节，针对7项邻苯提出两种测试方法

待发布系列标准

2017年

● IEC 62321-4 am1 1.0

   使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞

●  IEC 62321-9 1.0

   通过HPLC-MS测定高分子材料中的六溴环十二烷

2018年

●  IEC 62321-3-2 2.0

   使用C-IC对聚合物和电子产品中的氟、溴、氯进行筛选

●  IEC 62321-3-3 1.0

   使用PY-GC-MS、TD-GC-MS对聚合物中的多溴联苯、多溴二苯醚、特定邻苯二甲酸盐进行筛选

●  IEC 62321-10 1.0

   通过GC-MS测定聚合物和电子材料中的多环芳烃

注: C-IC  燃烧离子色谱法            

      PY-GC-MS   热裂解气相色谱质谱联用仪

      IAMS  离子附着质谱法                 

      TD-GC-MS   热脱附气相色谱质谱联用仪  

已更新系列标准

2013年

●  IEC 62321-1  

   简介和概述

   主要变化：基本*

●  IEC 62321-2   

   样品的拆卸、拆解和机械拆分

   主要变化：基本*

●  IEC 62321-3-1  

   电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴的筛选

   主要变化： 基本*

● IEC 62321-3-2  

   使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选

   主要变化： 2013版增加了新的方法（C-IC）

●  IEC 62321-4    

   使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞

   主要变化：2013版增加了新的方法（热解析金汞齐化系统）

● IEC 62321-5     

   使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物和电子材料中的汞、镉、铅和铬，以及金属中的镉和铅

   主要变化：2013版增加了总铬的测试要求及新的检测方法（AFS）

2015年

● IEC 62321-6  

   使用GC-MS、IAMS和HPLC测定聚合物和电子材料中的多溴联苯和多溴二苯醚

   主要变化：2015版增加了新的检测方法（IAMS/HPLC）

● IEC 62321-7-1 

   通过比色法测定金属无色和有色防腐镀层中六价铬

  主要变化：关于六价铬的前处理及上机测试部分未做改动，对结果的阴性阳性判定基准改为小于0.1μg/cm2阴性、大于0.13μg/cm2阳性、

   0.1μg/cm2~0.13μg/cm2不确定

GC-MS 6800是天瑞仪器精心打造的一款高性价比气相色谱质谱联用仪，具有*的自主知识产权，拥有多项技术，可广泛应用于工业检测、食品安全、环境保护等众多领域。