XRF元素分析仪具有多种测试模式设置和数目模式的自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。采用超小超真空的样品腔设计，保证测试时达到10Pa以下，使设备的测试范围可从F元素起测试，大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。
 

　　样品原子时，会产生次级X射线，这些次级X射线会被探头收集并处理。
 

　　较稳定的原子是由原子核及绕核旋转的电子构成，电子按照能量层级或电子壳层排列，不同的能量层级可包含不同数量的电子。
 

　　在高能初级X射线与原子发生碰撞时，会打乱原子的平衡状态。
 

　　此时，电子会从较低的能量层级射出，形成电子空位，使原子失去稳定。
 

　　为了恢复稳定性，较高能量层级的电子就会填补空位。而电子在两个能量层级间移动时释放的多余能量就会以次级X射线的形式发射出来。发射出的X射线的能量会表现出元素的特征。这也就意味着XRF能够提供有关被测样品的定性信息。
 

　　XRF元素分析仪的开机技巧：
 

　　1.待设备内液态氮的状态确认OK后,方可开机。
 

　　2.打开检测设备专用变压器的开关，确认输出电压为100V，观察绿色指示灯亮为正常运行。
 

　　3.打开专用插座开关，检查各插头的插入状态是否良好。
 

　　4.再打开分析仪的开关，“READY”灯开始闪烁，约6分钟后变为常亮。
 

　　5.打开冷光照射器的开关，并确认照射器上的开关是否设置在“M”侧。
 

　　6.然后再开电脑显示器和主机。