XRF元素分析仪具有多种测试模式设置和数目模式的自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。采用超小超真空的样品腔设计,测试时达到10Pa以下,使设备的测试范围可从F元素起测试,大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。
样品原子时,会产生次级X射线,这些次级X射线会被探头收集并处理。
较稳定的原子是由原子核及绕核旋转的电子构成,电子按照能量层级或电子壳层排列,不同的能量层级可包含不同数量的电子。
在高能初级X射线与原子发生碰撞时,会打乱原子的平衡状态。
此时,电子会从较低的能量层级射出,形成电子空位,使原子失去稳定。
为了恢复稳定性,较高能量层级的电子就会空位。而电子在两个能量层级间移动时释放的多余能量就会以次级X射线的形式发射出来。发射出的X射线的能量会表现出元素的特征。这也就意味着XRF能够提供有关被测样品的定性信息。
XRF元素分析仪的开机技巧:
1.待设备内液态氮的状态确认OK后,方可开机。
2.打开检测设备变压器的开关,确认输出电压为100V,观察绿色指示灯亮为正常运行。
3.打开插座开关,检查各插头的插入状态是否良好。
4.再打开分析仪的开关,“READY”灯开始闪烁,约6分钟后变为常亮。
5.打开冷光照射器的开关,并确认照射器上的开关是否设置在“M”侧。
6.然后再开电脑显示器和主机。